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产品名称:日本千野CHINO红外辐射温度仪

产品型号:

产品报价:

产品特点:日本千野CHINO红外辐射温度仪
红外辐射温度仪集温度数字显示、参数设定功能一体化的温度仪。利用聚乙烯系高分子材料含有的氧化吸收带就能不受着色剂影响对薄膜的厚度进行正确的测试

日本千野CHINO红外辐射温度仪的详细资料:

日本千野CHINO红外辐射温度仪

 

红外辐射温度仪是集温度数字显示、参数设定功能一体化的温

度仪。

红外辐射温度仪参数

机种

测定范围

型号

低温· 长波长形

-50~100℃、20~1000℃

IR-CAB

低温· 短波长形

30~200℃、100~500℃

IR-CAE

低中温用

80~250℃、150~450℃、200~800℃

IR-CAP

中温用

300~1600℃
200~1000℃(选件)

IR-CAI

高温用

600~3000℃
500~2000℃

IR-CAS

高功能形

400~3000℃
350~2000℃(选件)

IR-CAQ

超宽范围形

20~3000℃

IR-CAW

用途

聚酯薄膜用

0~300℃

IR-CAN

聚乙烯薄膜用

30~300℃

IR-CAM

炉内用

350~100℃、450~1300℃、500~1500℃

IR-CAR

玻璃用

100~800℃、200~1800℃、400~2800℃

IR-CAG

硅用

400~800℃、500~1000℃、600~1200℃

IR-CAT

镓、砷用

400~800℃、500~1000℃

IR-CAU

食品FA用

60~100℃

IR-CAF

HMD(熟块检知器)

100~550℃相当辉度温度

IR-CADAC01

设定显示器

IR-GZ

型号

输出

IR-GC1

继电器输出

IR-GC1T(单色形、单色 超宽形)
IR-GC2T(2色形)

晶体管输出

规格

机种

低温· 长波长形

低温· 短波长形

低中温用

型号

IR-CAB

IR-CAE

IR-CAP

测定波长

8~13μm

4μm

2μm

检出元件

焦电元件

PbSe

PbS

额定精度

±8℃

200℃未满…±2℃

200℃以上…测定值的±1%

±2℃

±3℃

500℃未满…±3℃
500℃以上…±5℃

重复性

0.2℃以内

1℃以内

0.5℃以内

1℃以内

1℃以内

分辨力

0.1℃

1℃

0.1℃

1℃

响应时间

2s

0.2s

0.02s

辐射率补偿

辐射率设定值…1.999~0.050

光学系

镜头集光、固定焦点方式

镜头集光、可动焦点方式

测定径

φ37/1000mm、φ20/1000mm、
φ15/400mm、φ10/500mm、φ8/200mm、
φ4/200mm、φ40/2000mm、φ2/100mm

φ37/1000mm
φ15/400mm
φ8/200mm

测定距离/距离系数: 距离系数200

测定距离/距离系数 :距离系数 50、200、300

取景方式

激光投光,无取景器

直视取景

镜头口径

φ15mm

φ20mm

模拟输出

4~20mA DC 隔离输出

电源

24V DC(许容电压变动范围…22~28V)

消耗功率

zui大5VA

zui大10VA

CE标识

EMC指令 EN61326+A1 Emission classA Immunity AnnexA适合只有端子连接的场合

 

机种

中温用

高温用

高功能形

超宽形

形式

IR-CAI

IR-CAS

IR-CAQ

IR-CAW

测定波长

1.55μm

0.9μm

1.55/1.35/0.9μm

8~13/1.55/0.9μm

检出元件

InGaAs

Si

InGaAs/Si/InGaAs

TP/InGaAs/Si

额定精度

1000℃未满…±5℃
1000℃以上1500℃未满…测定值的±0.5%
1500℃以上2000℃未满…测定值的±1%
2000℃以上…测定值的±2%
(ε=1.0、基本动作条件下)

重复性

0.2℃以内

1℃以内

分辨力

0.5℃

1.0℃

响应时间

3ms

20ms

0.1s

辐射率补偿

辐射率设定值…1.999~0.050

辐射率比设定值…1.999~0.050

光学系

可动焦点方式

镜头集光、固定焦点方式

距离系数

200、50(选件)

 

测定距离

0.5m~∞

 

测定径

测定距离/距离系数

φ29/1000mm

视定方式

直视取景或集光投光(选件)

直视取景

镜头口径

φ20mm

φ30mm

模拟输出

4~20mA DC 隔离输出
负载阻抗…500Ω以下
精度……输出范围的±0.2%
分辨力…输出范围的0.04%
量程…测定温度范围内可任意设定
模拟输出…模拟输出0~100%范围内可任意设定

4~20mA DC隔离输出

电源

24V DC(许容电压变动范围…22~28V)

推荐电源单元IR-ZFEP(S82K-01524欧姆龙产)

24V DC
(许容电压变动范围…22~28V)

消耗功率

zui大3VA

CE标识

EMC指令 EN61326

EMC指令
EN61326+A1 Emission classA Immunity AnnexA
适合只有端子连接的场合

IR-CA系列日本千野chino固定型红外测温仪

通用规格

信号变调

DELAY…

平均值(变调度 0.0~99.9s、0.1s步 1s未满0.01步任意设定)

变调度0=REAL

PEAK…

zui高值(变调值 0、2、5、10℃/s 选择设定)

变调度0=峰值保持

显示

温度显示部…LCD 4位

参数部…LCD 4位

显示单位…℃/ (用操作键切换)

运算机能

零位、满度调整、自动辐射率运算、输出补偿

自诊断

机器温度异常、参数出错

使用温度范围

0~50℃

接线方法

端子接线或连接件接续

外科材料

铝制

重量

约1.3kg

 

 

日本千野CHINO红外辐射温度仪

      用途

  • 聚酯薄膜用 IR-CAN
    利用聚酯系高分子材料特有的吸收带,可进行高精度的厚度测定
  • 聚乙烯薄膜用 IR-CAM
    利用聚乙烯系高分子材料含有的氧化吸收带就能不受着色剂影响对薄膜的厚度进行正确的测试
  • 炉内用 IR-CAR
    这种温度仪适合对燃烧炉内的物体或是用火焰加热的物体的温度进行测定。它对燃烧气体的影响很小,所以可以进行正确的测定。
  • 玻璃用 IR-CAG
    利用玻璃透过率少、受水蒸气、二氧化碳影响少的特定波长,就能不受透过、反射的影响,对玻璃的表面温度进行正确的测定。
  • 硅片用 IR-CAT
    利用硅片的不透明带域作为测定波长,可以不受芯片反面加热器的影响,对芯片温度进行高精度测定
  • 镓 砷用 IR-CAU
    利用镓、砷的不透明带域作为测定波长,对芯片的温度进行高精度的测定
  • 食品FA用 IR-CAF
    可对充灌到罐头、瓶装的果实、蔬菜类饮料的液温进行高速、高精度的测定。
  • HMD(热块检知器) IR-CADAC01
    是为辨别有无铝等金属热块出现的专用仪器,当超过设定范围的热块出现时,就进行输出。

设定显示器 IR-GZ

 

显示

温度、连接的辐射温度计番号、状态显示

模拟输出

输出 4~20mADC(IR-GZ输出、负载阻抗500Ω以下)

事件输出

2点
从上限、上上限、下限、下下限报警中选择2个
继电器a接点输出(共地)

接点容量

240VAC1.5A
30VDC1.5A

电源

100-240VAC自由电源 50/60Hz

消耗功率

zui大20VA

使用温度范围

-10℃~50

使用湿度范围

20~90%RH(不结露)

重量

约0.5kg

 

电源指示计 IR-GC

 

显示

数据、模式、报警状态显示

模式

平均、持续

模拟输出

4~20mA DC(负载阻抗750Ω以下)隔离输出

报警输出

上下限独立设定、继电器或晶体管输出

辐射温度计电源

24V DC、100mA

电源

100-240V AC 自由电源、50/60Hz

消耗功率

zui大20VA

使用温度范围

0~50℃

使用湿度范围

90%RH以下(不结露)

重量

约0.4kg

 

日本千野CHINO红外辐射温度仪

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